SJ/T 10736-1996 半导体集成电路 ＨＴＬ电路测试方法的基本原理
时间:2024-05-17 19:12:09 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8162
基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＨＴＬ电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for HTL circuits |
| 中标分类： |
化工 >>
化工综合 >>
技术管理 |
| 替代情况： | 原标准号GB 3440-82 |
| 发布日期： | 1996-11-20 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 16页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 化工 化工综合 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 造纸原料水分的测定 |
| 英文名称： | Fibrous raw meterial—Determination of moisture content |
| 中标分类： |
轻工、文化与生活用品 >>
造纸 >>
造纸综合 |
| ICS分类： |
|
| 替代情况： | GB 2677.2-1981;被GB/T 2677.2-2011代替 |
| 发布部门： | 国家技术监督局 |
| 发布日期： | 1993-03-01 |
| 实施日期： | 1993-10-01 |
| 首发日期： | 1981-06-06 |
| 作废日期： | 2012-09-01 |
| 主管部门： | 中国轻工业联合会 |
| 提出单位： | 中华人民共和国轻工业部 |
| 归口单位： | 全国造纸工业标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 轻工部造纸工业科学研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 1993-10-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：4， 字数：3千字 |
适用范围
本标准规定了测定造纸原料水分的方法。本标准适用于各种造纸原料水分的测定。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 轻工 文化与生活用品 造纸 造纸综合